سیستم اندازه گیری اثر هال و مقاومت سطحی |
اندازه گیری کم نویز با استفاده از میدان الکتریکی AC |
اندازه گیری مشخصه های لایه نیم رسانا مانند مقاومت سطحی، موبیلیته، چگالی حامل ها و نوع حامل ها در پژوهش مواد نیم رسانا نظیر سلول های خورشیدی، لایه نازک، LED و لایه های رسانای شفاف ضروری است. این دستگاه دارای 4 پروب است که دو پروب برای اعمال جریان و دو پروب برای اندازه گیری ولتاژ استفاده می شود و بسته به نحوه اعمال جریان و اندازه گیری ولتاژ قادر است ولتاژ هال یا مقاومت سطحی را اندازه گیری کند. این سیستم با بهره گیری از یک سیستم AC و فناوری منحصر به فرد کاهش نویز قادر است که پارامترهای نیم رساناهای لایه هایی نظیر CIGS، مواد آلی و لایه های پروسکایت که دارای مقاومت بسیار زیادی هستند را اندازه گیری کند. استفاده از میدان مغناطیسی AC قابلیت منحصر به فردی است که امکان اندازه گیری برای نیم رساناهای با موبیلیته کمتر از 1 cm2/Vs را فراهم می کند. اخیرا این مواد، از جمله لایه های آمورف و نانو کریستالی اهمیت زیادی در فناوری های جدید پیدا کرده اند. ویژگی ها
|
درخواست اطلاعات و قیمت
محصولات مرتبط |
|
درباره ما
تماس با ما |